本セミナーのお申し込み受付は終了いたしました。
次回のセミナーは詳細が決まり次第、ブログ または メールマガジンでご案内いたします。
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ノイズによる機器の不具合、ESDの問題でお悩みの方へ
最新EMCスキャナ “SmartScan”を使った、ESD不具合事象の可視化と対策事例のご紹介
イミュニティ対策の中でも、ESDはEMCエンジニアの間で頭を悩ませる大きな問題となってきました。
このセミナーは、Amber Precision Instruments 社(本社:サンノゼ)のSmartScanを用いた基板のESDエラー箇所の特定手法と、電流経路可視化による不良改善と開発リードタイム削減の事例に関する無料ウェビナーとなっております。ぜひご参加ください。
API SmartScanとは
API(Amber Precision Instruments, 本社: San Jose, CA)は、EMC分野での世界最高の教育と技術を誇るMissouri University of Science and Technology(ミズーリ工科大学)の研究から生まれた、最先端 EMI / ESD スキャン・測定・可視化装置メーカーです。電子機器の機能の複合化、高機能化により、近年ますます電磁波・静電気による人体や周辺機器への影響、ノイズによる装置全体の誤作動の防止と問題解決が課題になっています。
APIのEMI / ESD スキャナーは、EMC対策に関して顕在化している問題と、将来の問題の両方を解決することにより、設計・開発期間の短縮とコスト削減、ノウハウの蓄積を実現します。
Contents
はじめに
こんな方におすすめ!
- EMCエンジニア
- 品質管理担当者
- EMC対策でお困りの方
- EMI / ESD対策にご興味をお持ちの方
セミナーでどんなことがわかるの?
- EMCの現場で直面する課題
- TLP(Transmission Line Pulse)の波形と特性
- ESDガンとTLP測定の比較
- ESDスキャニングの方法(脆弱箇所の可視化)
- 電流拡散経路トレースの方法(電流経路の可視化)
- 電流経路の可視化事例と不具合対策例
開催概要
セミナー名 | EMCノイズ対策の最新技術 ~ ESDノイズ可視化による開発リードタイム削減と対策事例 |
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講師 | Quadcept株式会社 COO 松田知樹 |
開催日 | 2020年10月29日(木) |
開催時間 | 13:30~15:00 |
参加費 | 無料 |
定員 | 100名 ※参加方法は、セミナー前日にご連絡させていただきます。 ※開催前に申し込み者が少ない場合は開催を見送ることがあります。 ※競合他社様のご参加はご遠慮いただいておりますので、ご了承ください。 |
申込締切 | 2020年10月27日(火) 12:00 |
会場 | オンライン(全国どこでも参加可能) Zoomを使ってセミナーを行います。 (通信テスト:https://zoom.us/test) |
準備するもの |
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タイムテーブル
<セミナールーム開場 / 事前準備> 開始時間の15分前(13:15)からセミナールームにお入りいただけます。 事前に「Zoomミーティング参加までの流れ」をご確認いただき、ご準備ください。 セミナー開始前にマイクやスピーカーのテストをお願いいたします。 |
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05分 | 主催者挨拶 |
55分 | EMCノイズ対策の最新技術 ~ ESDノイズ可視化による開発リードタイム削減と対策事例 |
10分 | 質疑応答 ※Zoomチャット機能を使ってご質問を投稿ください。 |
20分 | Quadceptのご紹介 |
– | アンケート ※ご希望の方は、セミナー後に個別相談することができます。 |
お申し込み
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ご協力のお願い
- お申し込み後のキャンセルにつきましては、前日までにご連絡ください。
メール:support@4cept.com または 電話:06-4802-1007 - 視聴者側のネット環境等により配信が途切れてしまうなど、双方で予期せぬトラブルが発生する可能性がございますが、ご了承ください。
- 安定したWi-Fi環境下でご受講ください。